Производитель:FLUKE NETWORKS
Арт. 4955629
Код Товара:75442
Информация на сайте носит справочный характер и не является публичной офертой. Технические параметры (спецификация) и комплект поставки товара могут быть изменены производителем без предварительного уведомления. Уточняйте информацию у наших менеджеров.
Кабельный анализатор Fluke Networks OFP2-CFP-QI INT представляет собой многофункциональный диагностический прибор на базе модульной платформы Versiv, который обеспечивает полный цикл работ по сертификации оптических линий СКС (структурных кабельных систем) на основе одно- и многомодовых трактов в соответствии с действующими отраслевыми стандартами TIA и ISO. Кроме модулей QUAD OLTS, предназначенных для измерения оптических потерь, в состав комплекта включен модуль рефлектометра QUAD OTDR и набор для обследования, что позволяет сертифицировать оптоволоконные системы согласно ISO14763-3 по обоим уровням – базовому и расширенному.
Функциональная насыщенность. Комплект кабельного анализатора включает в себя не только измерительные модули, но и USB-микроскоп для визуального обследования торцевых поверхностей оптических разъемов. Он позволяет выявлять загрязнения и повреждения, ухудшающие прохождение сигнала. За счет использования в кабельном анализаторе Fluke Networks OFP2-CFP-QI INT нескольких сменных модулей с общим базовым блоком устройства семейства Fluke Networks на платформе Versiv обладают меньшей стоимостью, по сравнению с набором из отдельных измерителей с такой же функциональностью. При этом обеспечивается единообразное представление данных – для обработки и составления отчетов в среде ПО LinkWare PC.
Простота использования. Полная автоматизация процесса испытаний с минимумом предварительных ручных операций, для правильного выполнения которых на экране высвечиваются наглядные подсказки, позволяет задействовать для полевых работ низкоквалифицированный персонал. Благодаря пользовательскому интерфейсу Taptive работать с прибором не сложнее, чем с обычным смартфоном. За счет наличия Wi-Fi адаптера настраивать измеритель можно удаленно с помощью сервиса LinkWare Live.
Кабельный анализатор Fluke Networks OFP2-CFP-QI INT поставка в Бишкек, Ош, Джалал-Абад, Каракол и другие города Кыргызстана. Мы предлагаем продукцию исключительно положительно зарекомендовавших себя производителей. Можете получить консультацию специалистов по телефону либо воспользоваться онлайн-консультантом на сайте.
Fluke Networks OptiFiber PRO | ||||||
---|---|---|---|---|---|---|
Многомодовый модуль | Одномодовый модуль | Модуль QUAD | ||||
Длины волн | 850 нм ± 10 нм 1300 нм +35/-15 нм |
1310 нм ± 25 нм 1550 нм ± 30 нм |
850 нм ± нм 1300 нм +35/-15 нм 1310 нм ±25 нм 1550 нм ±30 нм |
|||
Совместимые типы оптоволокна | 50/125 мкм 62,5/125 мкм |
Одномодовый |
50/125 мкм 62,5/125 мкм Одномодовый |
|||
Мертвая зона событий 1 | 850 нм: 0,5 м стандарт 1300 нм: 0,7 м стандарт |
1310 нм: 0,6 м стандарт 1550 нм: 0,6 м стандарт |
850 нм: 0,5 м стандарт 1300 нм: 0,7 м стандарт 1310 нм: 0,6 м стандарт 1550 нм: 0,6 м стандарт |
|||
Мертвая зона затухания 2 | 850 нм: 2,5 м стандарт 1300 нм: 4,5 м стандарт |
1310 нм: 3,6 м стандарт 1550 нм: 3,7 м стандарт |
850 нм: 2,5 м стандарт 1300 нм: 4,5 м стандарт 1310 нм: 3,6 м стандарт 1550 нм: 3,7 м стандарт |
|||
Динамический диапазон 3, 5, 6 | 850 нм: 28 дБ, стандартно 1300 нм: 30 дБ, стандартно |
1310 нм: 32 дБ, стандартно 1550 нм: 30 дБ, стандартно |
850 нм: 28 дБ, стандартно 1300 нм: 30 дБ, стандартно 1310 нм: 32 дБ, стандартно 1550 нм: 30 дБ, стандартно |
|||
Установка максимальной длины | 40 км | 130 км | MM: 40 км SM: 130 км |
|||
Диапазон измерения расстояния 4, 5, 7, 8, 9, 10 | 850 нм: 9 км 1300 нм: 35 км |
1310 нм: 80 км 1550 нм: 130 км |
850 нм: 9 км 1300 нм: 35 км 1310 нм: 80 км 1550 нм: 130 км |
|||
Диапазон отражающей способности 4, 5 | 850 нм: -14 дБ – -57 дБ (стандартно) 1300 нм: -14 дБ – -62 дБ (стандартно) |
1310 нм: -14 дБ – -65 дБ (стандартно) 1550 нм: -14 дБ – -65 дБ (стандартно) |
850 нм: -14 дБ – -57 дБ (стандартно) 1300 нм: -14 дБ – -62 дБ (стандартно) 1310 нм: -14 дБ – -65 дБ (стандартно) 1550 нм: -14 дБ – -65 дБ (стандартно) |
|||
Разрешающая способность пробы | 3 см – 400 см | 3 см – 400 см | 3 см – 400 см | |||
Продолжительность импульса (номинальная) | 850 нм: 3, 5, 20, 40, 200 нс 1300 нм: 3, 5, 20, 40, 200, 1000 нс |
1310/1550 нм: 3, 10, 30, 100, 300, 1000, 3000, 10000, 20000 нс | 850 нм: 3, 5, 20, 40, 200 нс 1300 нм: 3, 5, 20, 40, 200, 1000 нс 1310/1550 нм: 3, 10, 30, 100, 300, 1000, 3000, 10000, 20000 нс |
|||
Время тестирования (на длину волны) | Автоматическая настройка: 5 с (стандартно) |
Автоматическая настройка: 10 с (стандартно) |
Автоматическая настройка: MM – 5 с (стандартно) SM – 10 с (стандартно) |
|||
Настройка быстрого тестирования: 2 с (стандартно) |
Настройка быстрого тестирования: 5 с (стандартно) |
Настройка быстрого тестирования: MM – 2 с (стандартно) SM – 5 с (стандартно) |
||||
Настройка наивысшей точности: 2 – 180 с |
Настройка наивысшей точности: 5 – 180 с |
Настройка наивысшей точности: MM – 2 – 180 с M SM – 5 – 180 с |
||||
Настройка FaultMap: 2 с (стандартно), 180 с (макс.) |
Настройка FaultMap: 10 с (стандартно), 180 с (макс.) |
Настройка FaultMap: MM – 2 с (стандартно), MM – 180 с (макс.) SM – 10 с (стандартно), SM – 180 с (макс.) |
||||
Настройка OTDR для центра обработки данных: 1 с (стандартно при 850 нм), 7 с (макс.) |
Настройка OTDR для центра обработки данных: 20 с (стандартно), 40 с (макс.) |
Настройка OTDR для центра обработки данных: MM – 1 с (стандартно при 850 нм) MM – 7 с (макс.) SM – 20 с (стандартно) SM – 40 с (макс.) |
||||
Ручная настройка: 3, 5, 10, 20, 40, 60, 90, 120, 180 с |
Ручная настройка: 3, 5, 10, 20, 40, 60, 90, 120, 180 с |
Ручная настройка: -3, 5, 10, 20, 40, 60, 90, 120, 180 с SM — 3, 5, 10, 20, 40, 60, 90, 120, 180 с |