Сканирующий микроскоп OLYMPUS FLUOVIEW FV3000
Предзаказ
Сканирующий микроскоп OLYMPUS FVMPE-RS
Предзаказ
Сканирующий микроскоп OLYMPUS LEXT OLS5000
Предзаказ
Сканирующий микроскоп OLYMPUS SPINSR10
Предзаказ
Сканирующие микроскопы – электронные устройства, которые позволяют проводить исследования поверхностей предметов. В отличии от других микроскопов, они дают возможность получить изображение со сверхвысоким пространственным разрешением. Благодаря этому оборудованию, специалисты получают данные о строении, компонентах и физических свойствах поверхностных слоев изучаемых объектов.
Современный микроскоп этого типа может выполнять приближение в 1 млн раз, что превышает возможности аналогичного оборудования, которое использует оптические системы. В сканирующих электронных устройствах используются другие способы получения изображений. А именно – сканирование рельефа с помощью особых зондов.
В зависимости от принципа действия сканирующего микроскопа все оборудование этого класса делится на несколько видов:
- Растровый электронный микроскоп. Схема его работы основана на принципе взаимодействия электронного пучка с исследуемым образцом. Используются электронная пушка и колонна, которые формирует четко направленный электронный зонд на поверхности исследуемого предмета. При таком контакте появляются сигналы нескольких видов, они фиксируются детекторами, расшифровываются и отображаются на экране в виде пригодной к анализу картинки.
- Зондовый микроскоп. Позволяет получать картинку исследуемого объекта в сверхбольшом разрешении благодаря сканированию поверхности особым зондом. Регистрируется расстояние от зонда до образца, благодаря чему специалист получает изображение рельефа поверхности.
- Туннельный сканирующий микроскоп. Разновидность устройства сканирующего типа, которое позволяет получать мельчайшие подробности рельефа изучаемого образца с проводящей поверхностью. В туннельном микроскопе роль зонда играет игла, которая при приближении к объекту на расстояние в 0,1 нм формирует туннельный ток. В зависимости от его характеристик формируется изображение объекта.
- Атомно-силовой микроскоп. Позволяет сканировать поверхность исследуемого объекта и определять его рельеф в диапазоне от нескольких ангстрем до размера атомов. С помощью атомно-силового устройства можно исследовать поверхности, которые не проводят электрический ток.
Сканирующие поставка в Бишкек, Ош, Джалал-Абад, Каракол и другие города Кыргызстана. Мы предлагаем продукцию исключительно положительно зарекомендовавших себя производителей. Можете получить консультацию специалистов по телефону либо воспользоваться онлайн-консультантом на сайте.